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Auger microprobe analysis
1989
Signatur: UFF1493



Basics of electron optics
A Wiley Interscience publication
1990
Signatur: UFF1540

Wiley series in materials for electronic and optoelectronic applications
2005
Signatur: UIR2687





Electron and ion optics
Microdevices
1988
Signatur: UFF1574

Electron beam testing technology
Microdevices
1993
Signatur: UFF1621

Electron microprobe analysis
2. ed, 1993
Signatur: UFF1605

Electron microscopy in materials science series
1991
Signatur: UIO1953



[Rev. ed.], 1980
Signatur: YEA2298


Electronics via waveform analysis
1993
Signatur: UFF1647


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