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6. print, 1970
Signatur: XXA2241
Scanning tunneling microscopy (Alle Bände), Springer series in surface sciences : 28 (Alle Bände)
2. ed, 1995
Signatur: UFF1582(2)-2
2., überarb. Aufl, 1967
Signatur: UFF1003(2)
Springer series in surface sciences : ...
Signatur: UFF1582-...
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Autor / Autorin
- Anselmetti, Dario
- Baumeister, Wolfgang
- Güntherodt, Hans-Joachim
- Bargmann, Wolfgang
- International Conference on Electron Microscopy
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- Craig, Edwin C
- Jones, Kenneth A
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- Banhart, Florian
- Bartsch, Heinz
- Bauer, Hans-Dietrich
- Berghaus, Thomas
- Beynon, John
- Bigalke, Alfred
Erscheinungsform
Schlagwort
- Rastertunnelmikroskopie
- Elektronenmikroskopie
- Rasterkraftmikroskopie
- Elektronenoptik
- Elektronik
- Halbleiter
- Oszillograph
- Elektronenmikroskop
- Elektronenstrahlmikroanalyse
- Rasterelektronenmikroskopie
- Rastersondenmikroskopie
- Elektronisches Bauelement
- Ionenoptik
- Kristallfläche
- Mikroskopie
- Waveform-Relaxation
- Werkstoffkunde
- Werkstoffprüfung
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