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Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen : 3049 (Alle Bände)
1981
Signatur: UTI1266

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
Ist Teil von
Ort / Verlag
Opladen : Westdt. Verl.
Erscheinungsjahr
1981
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Sprache
Deutsch
Identifikatoren
ISBN: 3531030493
OCLC-Nummer: 720900284, 720900284
Titel-ID: 990001666970106463
Format
23 S. : graph. Darst.
Systemstelle
UTI
Schlagworte
Sekundärionen-Massenspektrometrie, Oberflächenanalyse

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