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Microelectronic reliability. 2. Integrity assessment and assurance
Microelectronic reliability (Alle Bände)
1. [Dr.], 1989
Signatur: YCM1406-2

Details

Titel
Microelectronic reliability. 2. Integrity assessment and assurance
Ist Teil von
Auflage
1. [Dr.]
Ort / Verlag
Norwood, Mass. : Artech House
Erscheinungsjahr
1989
Beschreibungen/Notizen
  • Aus d. Ital. übers.
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0890063508
OCLC-Nummer: 311345155, 311345155
Titel-ID: 990004974710106463
Format
XIV, 537 S. : zahlr. Ill. u. graph. Darst.
Systemstelle
YCM

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