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Recent advances in x-ray characterization of materials
Progress in crystal growth and characterization : ...
Signatur: UIO1961-...

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Recent advances in x-ray characterization of materials
Ist Teil von
  • Progress in crystal growth and characterization : ...
Ort / Verlag
Oxford [u.a.] : Pergamon Pr.
Bände
Beschreibungen/Notizen
  • Erschienen: Vol. 1 - 2
Sprache
–
Identifikatoren
OCLC-Nummer: 1069833135, 1069833135
Titel-ID: 990005003520106463
Format
–
Systemstelle
ZME, UIO

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