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Analysis of microelectronic materials and devices
1991
Signatur: XWO1429

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Analysis of microelectronic materials and devices
Ort / Verlag
Chichester [u.a.] : Wiley
Erscheinungsjahr
1991
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0471917133, 0471950130
OCLC-Nummer: 246822190, 246822190
Titel-ID: 990005585370106463
Format
XLVI, 934 S. : Ill., zahlr. graph. Darst
Systemstelle
YFB, YEM, UIU, XWO
Schlagworte
Werkstoff, Mikroelektronik, Chemische Analyse, Werkstoffprüfung

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