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Electromigration and electronic device degradation
A Wiley-Interscience publication
1994
Signatur: YFC1173

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Electromigration and electronic device degradation
Ist Teil von
  • A Wiley-Interscience publication
Ort / Verlag
New York [u.a.] : Wiley
Erscheinungsjahr
1994
Sprache
–
Identifikatoren
ISBN: 0471584894
OCLC-Nummer: 635594171, 635594171
Titel-ID: 990006555500106463
Format
XIV, 343 S. : Ill., graph. Darst.
Systemstelle
UIY, YFC
Schlagworte
Elektromigration, Degradation, Elektronisches Bauelement

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