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High performance memory testing : design principles, fault modeling and self-test
Frontiers in electronic testing : 22 (Alle Bände)
2003
Signatur: TWL2101

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
High performance memory testing : design principles, fault modeling and self-test
Ist Teil von
Ort / Verlag
Boston [u.a.] : Kluwer Academic Publ.
Erscheinungsjahr
2003
Beschreibungen/Notizen
  • Includes bibliographical references and index
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 1402072554
OCLC-Nummer: 635777125, 635777125
Titel-ID: 990009206360106463
Format
XIII, 246 S. : Ill., graph. Darst.; 25 cm
Systemstelle
TWL
Schlagworte
Semiconductor storage devices, Computer storage devices

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