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Test economics and design for testability for electronic circuits and systems
Ellis Horwood series in electronics and electrical engineering
1995
Signatur: YEJ1035

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Test economics and design for testability for electronic circuits and systems
Ist Teil von
  • Ellis Horwood series in electronics and electrical engineering
Ort / Verlag
New York [u.a.] : Ellis Horwood
Erscheinungsjahr
1995
Beschreibungen/Notizen
  • Literaturverz. S. [195] - 202
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0131089943
OCLC-Nummer: 832652837, 832652837
Titel-ID: 990012869530106463
Format
X, 206 S. : graph. Darst.
Systemstelle
YEJ

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